如何選擇高品質(zhì)的涂層測厚儀

如何選擇高品質(zhì)的涂層測厚儀

（一）選型注意事項細則
1、為什么選擇時(shí)代涂層測厚儀，時(shí)代產(chǎn)品的優(yōu)勢在哪里？
    答：首先時(shí)代產(chǎn)品有非常高的質(zhì)量保障，擁有國內*大*先進(jìn)的生產(chǎn)線(xiàn)，近二十年的生產(chǎn)歷史，目前國內占有率在70％以上，服務(wù)方面，時(shí)代公司國內有20多家分公司，數百家代理機構，*大限度的實(shí)現當地購買(mǎi)就近維修。作為一家以檢測儀器為主業(yè)在深交所上市的高薪技術(shù)企業(yè)，時(shí)代公司在生產(chǎn)、開(kāi)發(fā)、銷(xiāo)售各方面擁有非常雄厚的實(shí)力。
2、時(shí)代涂層測厚儀主要測量什么材料的涂層？
    答：時(shí)代涂層測厚儀可以測量磁性金屬基材上的非磁性涂層的厚度，非磁性金屬基材上非導電層的厚度。
3、時(shí)代涂層測厚儀可以測非金屬材料上的涂層嗎？
    答：目前時(shí)代產(chǎn)的涂層測厚儀還不能夠測量非金屬材料上的涂層厚度，只能測量鐵基上非磁性材料的涂層，非鐵基金屬材料上絕緣層的厚度。
    另：對于非金屬基體材料的涂層測量目前可選擇電解、X射線(xiàn)、超聲涂層等方面的儀器，但是各種方式都有利弊，電解會(huì )破壞材料，X射線(xiàn)測厚儀造價(jià)比較高，超聲涂層測厚儀準確度及穩定性不是很好，目前有很多用戶(hù)使用時(shí)代測厚儀通過(guò)間接方法進(jìn)行測量，例如：噴涂過(guò)程中將金屬材料與非金屬材料同時(shí)噴涂，然后測量同一工藝下的金屬涂層厚度，間接得出非金屬材料噴涂的厚度。
4、時(shí)代涂層測厚儀可以測高溫材料的涂層嗎？
    答：時(shí)代測厚儀不能測量高溫材料，原則上只能測60度以下的材料。
5、時(shí)代涂層測厚儀可以測量鍍鎳層的厚度嗎？
    答：不能！因為鎳既導磁有導電，所以不能測量鍍鎳層的厚度。
6、我廠(chǎng)的涂層為防火材料，厚度在 5-8個(gè)毫米，能否使用貴廠(chǎng)的產(chǎn)品進(jìn)行測量。
    答：選配TT270涂層測厚儀配以F10探頭，可測量0－10mm的涂層厚度。
7、鋼管的內外壁都鍍有鍍層，能否測量？
    答：對于滿(mǎn)足測量材料要求的管道內壁的電鍍層時(shí)代有專(zhuān)門(mén)的F1/90探頭，*小半徑要求：
R＞7mm即可。
8、鍍層在5個(gè)微米左右可以測量嗎？用哪款儀器更合適？
    答：選配時(shí)代F400型探頭可以穩定的測量5um的厚度
☆9、銅上鍍鉻能測嗎 ？
    答：時(shí)代渦流測厚儀可以測量銅上鍍鉻的工件，但是鉻層必須小于40um。
10、可以測量薄膜、紙張的厚度嗎？
    答：對于滿(mǎn)足厚度要求的薄膜、紙張的厚度通過(guò)底部襯金屬基材的方式是可以測量的，目前這方面的應用客戶(hù)很多。
11、時(shí)代測厚儀可以測量螺桿上螺紋涂層的厚度嗎？
    答：直徑比較小的螺桿上面螺紋涂層的厚度目前時(shí)代儀器不能測量。
12、什么情況下選擇配通訊軟件，時(shí)代通訊軟件有哪些功能？
    答：目前時(shí)代涂層測厚儀中TT260可以選配通訊軟件，新版軟件在原軟件基礎上進(jìn)行了升級，功能強大實(shí)用性強，包括聯(lián)機下載、數據存儲、測量分析、技術(shù)支持等，輸出方式有WORD文檔、EXCEL表格、TXT文本、HTML網(wǎng)頁(yè)，可與計算機實(shí)現實(shí)時(shí)傳輸、實(shí)時(shí)打印。當用戶(hù)需要對測量數據進(jìn)行系統分析建立數據庫時(shí)建議選用時(shí)代TT260通訊軟件。
13、CN02探頭是用來(lái)測什么材料的？
    答：CN02探頭是專(zhuān)門(mén)用來(lái)測量線(xiàn)路版上銅箔厚度的，量程為0－200um
 
（二）影值的因素

1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明

a) 基體金屬磁性質(zhì)
    磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

b) 基體金屬電性質(zhì)
    基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

c) 基體金屬厚度
    每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

d) 邊緣效應
    本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e) 曲率
    試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f) 試件的變形
    測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

g) 表面粗糙度
    基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

g) 磁場(chǎng)
    周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

h) 附著(zhù)物質(zhì)
    本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須**附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i) 測頭壓力
    測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

j) 測頭的取向
    測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

2．使用儀器時(shí)應當遵守的規定

a) 基體金屬特性
    對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
    對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b) 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準。

c) 邊緣效應
    不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

d) 曲率
    不應在試件的彎曲表面上測量。

e) 讀數次數
    通常由于儀器的每次讀數并不完全相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

f) 表面清潔度
    測量前，應**表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。